El Máster en Propiedad Industrial, Intelectual, Competencia y Nuevas Tecnologías de PONS Escuela de Negocios y la Universidad Rey Juan Carlos, vuelve a convocar por tercer año consecutivo las “Becas a la excelencia Carlos Fernández-Nóvoa” impulsadas por la Fundación PONS.
El Master, que este año celebra su décimo tercera edición, ha tenido el gran privilegio y honor de tener como Director Honorífico a Don Carlos Fernández-Nóvoa, uno de los mayores expertos en Propiedad Industrial e Intelectual en nuestro país y un reconocido experto a nivel internacional. Las dos becas honoríficas que llevan su nombre se crean con un doble objetivo. Por un lado, perpetuar la memoria del maestro Fernández-Nóvoa y su legado intelectual, y por otro, premiar los mejores expedientes académicos, fomentando y potenciando las relaciones, los vínculos y la investigación entre los mejores profesionales en la materia de Propiedad Industrial e Intelectual y los alumnos en proceso de formación.
El programa ofrece un conocimiento profundo de los derechos sobre los activos inmateriales que dan valor a la empresa y las reglas de competencia que han de seguir para garantizar la libertad de actuación y la concurrencia en el mercado y el régimen legal aplicable a los nuevos derechos surgidos en la era de la información.
Plazo de presentación
El plazo para presentar las solicitudes a las 2 becas, dotadas de cuatro mil quinientos euros (4.500) cada una – equivalentes al 50% de la matrícula- es del 16 de mayo al 29 de junio de 2018. Toda la documentación deberá ser enviada a la siguiente dirección de correo electrónico: fundacion@pons.es (Se acusará recibo de cada una de ellas).
El 2 de julio de 2018 el comité de selección dará a conocer la decisión de quiénes han sido los alumnos beneficiados con las dos becas de Excelencia Carlos Fernández-Nóvoa. Esta decisión será definitiva y no será susceptible de revisión o reclamación. A partir de esa fecha, la Fundación Pons comunicará la decisión a los interesados, para comenzar con los trámites de matriculación.
